测试方法怎么写专利？
乐知网小编为专利申请的人介绍一下知识产权领域中，测试方法怎么写专利？
我国专利分为：发明专利、实用新型专利、外观设计专利三种类型。
发明专利申请流程包括: 受理、初审、公布、实审、授权。
实用新型和外观设计专利申请流程包括: 受理、初审、授权三个阶段。
一、文案撰写
根据发明人技术方向，进行专利检索，查询是否有相同或近似的在先申请，这一步很重要，关乎专利申请成功率，然后拟题，根据检索结果，确定技术方案的保护范围，进行申请材料的撰写。
二、专利申请提交
申请人向国知局提交专利申请材料，按规定缴纳费用，专利申请可以是电子形式和书面形式两种。
三、受理
提交申请以后，专利局确定专利的申请日，给予申请号并发出受理通知书。
四、初步审查
专利局受理申请以后会对专利进行初步的审查，审查合格后，公布审查结果。
五、实质审查
实质审查主要是针对发明专利的创造性、新颖性、实用性等进行评估；实用新型和外观设没有这一步骤。
六、授予专利权
专利申请人接到授权专利通知书以后，办理登记手续，并在规定期限内缴纳公告印刷费、年费、印花税，办理完登记手续后，获得专利证书。
测试方法专利案例：
本发明公开了一种测试方法，属于嵌入式设备生产技术领域，提供一测试设备以测试待测主板，待测主板具有独立接口，独立接口包括接地触点、电源触点、数据触点，测试设备包括分别对应于接地触点、电源触点、数据触点接地探针、供电探针、数据探针。
测试方法包括以下步骤：
将待测主板放置在测试设备的测试工位上；先使接地探针接触待测主板，消除待测主板与测试设备间的地电位差；再使供电探针接触待测主板，稳定待测主板电压；然后使数据探针接触待测主板。上述技术方案的有益效果是：设置测试设备的探针接触待测产品的顺序，来消除测试设备和待测产品之间的电压差，从而避免测试时待测产品与测试设备之间的地电位不平衡造成的器件损坏。
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